荧光X射线测厚仪是一种非接触式的动态计量仪器,这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。美国博曼BA100膜厚仪,测厚仪行业技术集大成者,具有卓越的测试性能与硬件软件配备。此仪器结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

如果您需要一台出色、准确可靠的测量仪器,BA 100 是您正确的选择。

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