美国原装博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪应用领域于分析电子部品电镀层的厚度 ,各类五金电镀件的镀层厚度管控分析,各镀层的成分比例分析等。美国原装博曼膜厚仪用于高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的 度和 低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 ,应用于端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板,卫浴,等行业,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用,高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev,配合快速信号处理系统能达到极高的 度和 低的检测限